Device Under Test（試験対象機器, DUT）

試験対象機器（DUT）とは、性能、機能、または法的要件への適合性を検証するために評価される電子機器、コンポーネント、またはシステムを指します。DUTは、研究開発（R&D）から認証試験機関や生産ラインまで、さまざまな試験環境において中心的な存在です。

試験手順における役割

DUTは、電子試験において主な評価対象です。電気的、環境的、または高周波（RF）の条件下で試験され、その挙動が監視されます。目的は以下のとおりです：

• 設計仕様および規制要件への適合性の確認

• 再現性のある試験結果の確保

• 一貫した性能評価の実施

試験装置は安定しており、自動化可能であり、基準規格へのトレーサビリティを持つ必要があります。

例：無線機器の評価

無線試験においては、たとえばルーターなどのDUTが次の項目について評価されます：

• データスループット

• 信号強度と放射パターン

• 干渉への耐性

• 消費電力

信号発生器、スペクトラムアナライザー、ネットワークアナライザーなどの装置が使用され、制御された条件下で再現性のある結果が得られます。

適合性評価および品質保証における役割

DUTは、次のような規格への適合を示す必要がある規制試験において重要な概念です：

• 電磁両立性（EMC）

• 高周波曝露制限（RF）

• 電気的安全性（絶縁、接地など）

DUTの評価は、製品開発、プレコンプライアンス試験、および市場投入前の最終適合性確認において使用されます。