Radiated Measurements (放射測定)
放射EMC試験
電磁両立性（EMC）試験において、放射測定は自由空間に放射される望ましくない電磁干渉を評価します。
典型的な適用分野：
高速デジタル回路またはスイッチング電源を持つ機器
非意図的放射体（コンピュータ、ディスプレイ、産業機器）
CISPR 11/22/32、FCC Part 15.109、EN 55032への適合
一般的な測定パラメータ：
放射エミッション（9 kHzから6 GHz以上）、dBµV/mで測定
測定セットアップ：
アンテナ：周波数に応じた対数周期、ホーン、またはバイコニカルタイプ
試験環境：半電波暗室（SAC）、全電波暗室（FAR）、または開放試験場（OATS）
EMIレシーバまたはスペクトラムアナライザ
角度走査用のターンテーブルとアンテナマスト
周囲干渉を抑制するシールド環境
→ 詳細情報：放射エミッション
放射RF試験
RF試験において、放射測定は統合アンテナを持つ機器またはアクセス可能なRFコネクタを持たない機器の意図的なワイヤレス性能を特性評価します。
典型的な適用分野：
統合アンテナを持つワイヤレス機器（スマートフォン、IoT機器、ウェアラブル）
アンテナパターン検証および利得測定
総放射電力（TRP）および総合等方感度（TIS）試験
EN 300 328、EN 301 893、FCC §15.247、3GPP TS 38.521への適合
一般的な測定パラメータ：
等価等方放射電力（EIRP）、dBmで測定
総放射電力（TRP）および総合等方感度（TIS）
アンテナ放射パターン（利得、指向性）
意図的放射体からのスプリアス発射
測定セットアップ：
RF吸収材を備えた電波暗室（FAR）
周波数範囲に対して校正された測定アンテナ
スペクトラムアナライザまたは信号アナライザ
位置決めシステム（ターンテーブル、アンテナマスト）
信号調整コンポーネント（増幅器、フィルタ）
測定は通常3メートルまたは10メートルの距離で実行され、被試験機器（DUT）は通常動作または特定の試験モードで動作します。
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